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Product Center當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心國(guó)產(chǎn)-耐壓絕緣接地泄漏低電阻儀國(guó)產(chǎn)-低電阻測(cè)試儀AT5112熱敏電阻測(cè)試儀AT5112 PTC電阻測(cè)試儀
熱敏電阻測(cè)試儀AT5112 PTC電阻測(cè)試儀內(nèi)置2路電阻測(cè)試電路,可同時(shí)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)PTC和被測(cè)PTC進(jìn)行測(cè)試得出差值并換算成實(shí)際值,忽略PTC的自身溫度敏感特性,達(dá)到精確測(cè)試,測(cè)試誤差小于0.1Ω,準(zhǔn)確度0.1%。采樣微處理器控制的AT5112可實(shí)現(xiàn)不開蓋校準(zhǔn),其Z高測(cè)試速度高達(dá)50次/秒,無(wú)論是人工測(cè)試或是自動(dòng)化測(cè)試都應(yīng)付自如。
熱敏電阻測(cè)試儀AT5112 PTC電阻測(cè)試儀
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AT5112是針對(duì)熱敏電阻的雙路測(cè)試儀,內(nèi)置2路電阻測(cè)試電路,可同時(shí)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)PTC和被測(cè)PTC進(jìn)行測(cè)試得出差值并換算成實(shí)際值,忽略PTC的自身溫度敏感特性,達(dá)到精確測(cè)試,測(cè)試誤差小于0.1Ω,準(zhǔn)確度0.1%。 采樣微處理器控制的AT5112可實(shí)現(xiàn)不開蓋校準(zhǔn),其zui高測(cè)試速度高達(dá)50次/秒,無(wú)論是人工測(cè)試或是自動(dòng)化測(cè)試都應(yīng)付自如。 | |||||||||||||||||||||||||||
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技術(shù)規(guī)格 | |||||||||||||||||||||||||||
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性能特征 | |||||||||||||||||||||||||||
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應(yīng)用 | |||||||||||||||||||||||||||
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