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相關(guān)文章● 測(cè)試參數(shù):L,C,R,Z,D,Q,θ(deg),θ(rad),Vm,Im ● 測(cè)試頻率:50Hz~200kHz (24064點(diǎn)) ● 基本準(zhǔn)確度:0.05% ● 測(cè)試電平:0.01V~2.00V 以10mV步進(jìn) ● 測(cè)試速度:4次/秒,9次/秒,25次/秒 ● 主參數(shù)5位,副參數(shù)6位顯示
AT811 精簡(jiǎn)了全功能型AT810的電路,大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用,使用安柏科技經(jīng)典的微型機(jī)箱。內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率,并且提供0.3V,1V測(cè)試電平,使其能*一般生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。使用安柏科技 AT-OS 2007 微型儀器操作系統(tǒng),使AT811更易用。
● 測(cè)試參數(shù):L,C,R,Z,D,Q,θ(deg),θ(rad) ● 測(cè)試頻率:100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz ● 基本準(zhǔn)確度:0.1% ● 測(cè)試電平:0.1V, 0.3V, 1.0V ● 測(cè)試速度:1.5次/秒,5次/秒,15次/秒 ● 主副參數(shù)5位顯示
● 測(cè)試主副參數(shù):Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,G-B,R-X,Z-θrad,Z-θdeg ● 測(cè)試監(jiān)視參數(shù):Z,D,Q,θr,θd,R,X,G,B,Y,Vac,Iac,Δ,Δ% ● 測(cè)試頻率:50Hz~200kHz (24064點(diǎn)) ● 基本準(zhǔn)確度:0.05% ● 測(cè)試電平:0.01V~2.00V 以10mV步進(jìn)
● 測(cè)試參數(shù):L,C,R,Z,D,Q,θ(deg),θ(rad) ● 測(cè)試頻率:50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,200Hz,400Hz,500Hz,1kHz, ● 2kHz,4kHz,5kHz,10kHz,20kHz,40kHz,50kHz,100kHz ● 基本準(zhǔn)確度:0.05% ● 測(cè)試電平:0.01V~2.00V 以10mV步進(jìn)